2025
10/21
本篇文章來自
捷多邦
當(dāng)清華大學(xué)方璐團(tuán)隊(duì)的“玉衡”芯片以原理樣片形態(tài)登上《自然》封面時(shí)，全球光譜成像領(lǐng)域意識(shí)到：一場精度革命已在醞釀。這款僅2厘米見方的芯片，通過“光子調(diào)制 + 算法重建”的突破性架構(gòu)，將光譜分辨率推至0.1埃米級別，相當(dāng)于能捕捉原子級別的光線差異，較歐美現(xiàn)有商用芯片提升兩個(gè)數(shù)量級。
更關(guān)鍵的是，它破解了傳統(tǒng)光譜技術(shù) “分辨率與速度不可兼得” 的百年難題，在保持超高精度的同時(shí)，實(shí)現(xiàn)88Hz的快照成像能力，為工業(yè)檢測場景打開了想象空間。
對正邁向高密度、精細(xì)化的線路板行業(yè)而言，這種技術(shù)突破恰逢其時(shí)。根據(jù)行業(yè)預(yù)測，2030年Anylayer HDI 板市場規(guī)模將達(dá)280億美元，線路密度需突破200線/cm2，而當(dāng)前檢測技術(shù)對0.5納米級別的材料缺陷仍束手無策。
“玉衡”的亞埃米級分析能力，未來有望成為破解這一困境的關(guān)鍵 —— 其光譜識(shí)別能力可穿透線路板阻焊層，精準(zhǔn)捕捉銅箔結(jié)晶差異或基材老化的微觀信號，為高階PCB的質(zhì)量管控提供“微觀透視”工具。
盡管目前芯片仍在推進(jìn)工程化樣機(jī)優(yōu)化，尚未進(jìn)入工業(yè)場景測試，但這種技術(shù)儲(chǔ)備已為線路板檢測從“毫米級”向“納米級”跨越埋下伏筆。
the end
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